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CP800-840C 系列 OCT 光谱仪:SD-OCT 系统的核心检测组件

2026-07-02

作者:测色仪器网

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光学相干断层扫描(OCT)是一种基于低相干干涉原理的成像技术,能够对样品内部的微观结构进行非接触、非侵入式的断层成像,在生物医学、工业检测、材料科研等领域发挥着重要作用。其中,光谱域 OCT(SD-OCT)凭借成像速度快、灵敏度高的特点,成为当前主流的 OCT 技术路线,而光谱仪正是 SD-OCT 系统中负责干涉光谱信号解析的核心部件,其性能直接影响整套系统的成像质量与检测能力。CP800-840C 系列是面向科研与工业场景打造的 SD-OCT 专用光谱仪,围绕 840nm 中心波段进行优化,通过成熟的光学设计与多样化的配置,为不同需求的 OCT 系统提供适配的核心组件。

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光学相干断层扫描(OCT)是一种基于低相干干涉原理的成像技术,能够对样品内部的微观结构进行非接触、非侵入式的断层成像,在生物医学、工业检测、材料科研等领域发挥着重要作用。其中,光谱域 OCT(SD-OCT)凭借成像速度快、灵敏度高的特点,成为当前主流的 OCT 技术路线,而光谱仪正是 SD-OCT 系统中负责干涉光谱信号解析的核心部件,其性能直接影响整套系统的成像质量与检测能力。CP800-840C 系列是面向科研与工业场景打造的 SD-OCT 专用光谱仪,围绕 840nm 中心波段进行优化,通过成熟的光学设计与多样化的配置,为不同需求的 OCT 系统提供适配的核心组件。

该系列光谱仪采用体相位全息(VPH)光栅作为分光元件,搭配 2048 像素的高灵敏度线阵 CMOS 探测器,在 840nm 波段范围内实现了出色的光学效率与信噪比表现。VPH 光栅的应用能够降低光路中的光能量损耗,让更多样品反射的光信号被探测器捕捉,从而提升整套 OCT 系统的探测灵敏度与动态范围,这对于检测弱反射信号的深层组织或低反射率材料尤为重要。同时,线阵 CMOS 探测器具备响应速度快、读出噪声低的特性,为高速光谱采集提供了硬件基础。

为了适配不同场景对成像精度与检测深度的差异化需求,该系列提供了多种光谱带宽配置,覆盖从 31nm 到 145nm 的区间。在 OCT 技术的物理原理中,系统的轴向分辨率与光源的光谱带宽直接相关,带宽越宽,能够实现的轴向分辨率越高;而系统的成像深度范围则与光谱仪的光谱分辨率相关,光谱分辨率越高,可支持的成像深度越大。这两者之间存在一定的权衡关系,无法在单台设备上同时实现很高的分辨率与很大的成像深度,因此多带宽的配置为用户提供了灵活的选择空间,可根据自身的应用目标选择更适配的型号。

在成像速度方面,该系列全型号均支持多档位线扫速率调节,上限可达 250kHz,能够满足实时二维截面成像与高速三维体成像的需求。更快的线扫速率不仅可以提升检测效率,适配工业在线检测的流水线节奏,还能在生物医学成像中减少样品运动带来的图像伪影,提升成像质量。例如在对活体生物组织进行扫描时,更快的采集速度可以降低呼吸、心跳等生理运动对图像清晰度的影响。

目前该系列共有四款标准型号,分别对应不同的带宽与性能组合。带宽为 145nm 的型号,轴向分辨率约为 2.14μm(空气中理论值),适合需要观察细微结构的场景;带宽为 31nm 的型号,成像深度可达 11.7mm(空气中理论值),适合对大尺寸或深层样品进行检测;中间两款则在分辨率与深度之间取得平衡,适用于多数通用场景。除了核心的光学参数差异,不同型号的物理尺寸也有所区别,带宽越窄、成像深度越大的型号,所需的光路空间更长,整体体积也相应更大,用户在系统集成时可根据安装空间进行选择。

作为 OCT 系统的核心组件,彩谱CP800-840C 系列光谱仪兼顾了性能的专业性与配置的灵活性,既能够支撑科研领域的前沿研究,也能够适配工业场景的批量集成需求。其标准化的接口与成熟的光学设计,能够降低 OCT 系统的开发与集成难度,帮助更多领域的从业者将 OCT 技术落地到实际的检测与研究工作中。

 


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